CDW-3000S-DT激光平面干涉仪是一款新型的非接触高精度无损光学表面测量设备。它基于菲索干涉原理，通过分析干涉条纹来确定光学表面面形。该设备集成了先进的光学、机械和电子技术，具有不损伤被测物品、测量精度高、测量时间短的特点；实现了对准光路和成像光路的电子切换，方便了用户的使用。

CDW-3000S-DT可以用于检测高精度光学元器件、光盘、硬盘等，适用于车间加工过程的在线检测，可整盘检测。在科学研究、精密器件加工、光学零件测试等领域有着广泛的应用。  

CDW-3000S-DT主要技术指标

配置清单

一 ，主要数据

1. 第一标准平面（A面）,不镀膜。工作直径：D1=φ285mm不平度小于0.05um
   2.第二标准平面（B面），不镀膜。工作直径：D2=φ285mm 不平度小于0.08um
   3.准直系统：孔径F/2.8，工作直径：D0=φ285mm 焦距：f=400mm
   4.测微目镜：焦距f=16.7mm，放大倍数β=15X，视场角2W=40°，成像物镜：1.D=4.5 II.D=7 III.D=10 F=15 f=23 f=37
   5.工作波长：632.8nm
   6.干涉室尺寸：深400宽500*400mm。
   7.光源规格：激光ZN18（He-Ne）。
   8.仪器的外形尺寸：长*宽*高 500*600*1200mm
   9.仪器重量：150公斤