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激光平面干涉仪
CDW-3000S-DT激光平面干涉仪
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产品详情

CDW-3000S-DT激光平面干涉仪

CDW-3000S-DT激光平面干涉仪是一款新型的非接触高精度无损光学表面测量设备。它基于菲索干涉原理,通过分析干涉条纹来确定光学表面面形。该设备集成了先进的光学、机械和电子技术,具有不损伤被测物品、测量精度高、测量时间短的特点;实现了对准光路和成像光路的电子切换,方便了用户的使用。

CDW-3000S-DT可以用于检测高精度光学元器件、光盘、硬盘等,适用于车间加工过程的在线检测,可整盘检测。在科学研究、精密器件加工、光学零件测试等领域有着广泛的应用。  

CDW-3000S-DT主要技术指标

技术指标

参数值

测量原理

菲索干涉原理

显示方式

CCD显示

标准参照镜面形精度

P-V:λ/10

光源

He-Ne激光器

波长

632.8nm

最大测量口径

Ф300mm

电源

AC210~230V 50~60Hz

最佳工作温度

20~25℃

外形尺寸

500×600×1200mm

质量

约150kg

配置清单

序号

型号、规格、名称

数量

1

CDW-3000S-DT激光平面干涉仪主机

1台

2

氦氖激光电源

1套

3

高精度机械调节架

1套

4

标准Ф300mm光学平面样板

1套

5

DELL计算机

1台

6

14″液晶显示屏

1台

 

 

一 ,主要数据

  1. 第一标准平面(A面),不镀膜。工作直径:D1=φ285mm不平度小于0.05um
    2.第二标准平面(B面),不镀膜。工作直径:D2=φ285mm 不平度小于0.08um
    3.准直系统:孔径F/2.8,工作直径:D0=φ285mm 焦距:f=400mm
    4.测微目镜:焦距f=16.7mm,放大倍数β=15X,视场角2W=40°,成像物镜:1.D=4.5 II.D=7 III.D=10 F=15 f=23 f=37
    5.工作波长:632.8nm
    6.干涉室尺寸:深400宽500*400mm。
    7.光源规格:激光ZN18(He-Ne)。
    8.仪器的外形尺寸:长*宽*高 500*600*1200mm
    9.仪器重量:150公斤

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