读数显微镜
数码成像系统SST
CDW-3000S-DT激光平面干涉仪是一款新型的非接触高精度无损光学表面测量设备。它基于菲索干涉原理,通过分析干涉条纹来确定光学表面面形。该设备集成了先进的光学、机械和电子技术,具有不损伤被测物品、测量精度高、测量时间短的特点;实现了对准光路和成像光路的电子切换,方便了用户的使用。
CDW-3000S-DT可以用于检测高精度光学元器件、光盘、硬盘等,适用于车间加工过程的在线检测,可整盘检测。在科学研究、精密器件加工、光学零件测试等领域有着广泛的应用。
CDW-3000S-DT主要技术指标
技术指标
参数值
测量原理
菲索干涉原理
显示方式
CCD显示
标准参照镜面形精度
P-V:λ/10
光源
He-Ne激光器
波长
632.8nm
最大测量口径
Ф300mm
电源
AC210~230V 50~60Hz
最佳工作温度
20~25℃
外形尺寸
500×600×1200mm
质量
约150kg
配置清单
序号
型号、规格、名称
数量
1
CDW-3000S-DT激光平面干涉仪主机
1台
2
氦氖激光电源
1套
3
高精度机械调节架
4
标准Ф300mm光学平面样板
5
DELL计算机
6
14″液晶显示屏
一 ,主要数据
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