| 金相显微镜:集成电路检测显微镜KEM-300 欢迎来电:021-39530106 |
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| 一、用途： |
| KEM-300 大平台检测显微镜适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门做表面质量检测，以及金相技术检验、失效分析等。特别对IT行业的晶元（大面积集成电路）质量检测，以其超大型载物台和大范围的纵、横向，快、慢速移动功能被普遍使用。主体为正置式双目镜筒，可连接成像系统将图像导入电脑进行图像记录，并建立技术检测档案，通过计算机对图像进行处理。 |
| 二、KEM-300 大平台检测显微镜技术参数: |
| 1、机械筒长:160mm |
2、物镜：4X、10X、20X、40X、60X （选购）、100X（油、选购） |
| 3、目镜：10X、12.5X（视场直径18 mm） |
4、放大倍数:40X~500X（标准配置) |
5、载物台面积:350mmX255mm |
| 6、调焦范围: 25mm 微调格值 0.002 mm 7、光源: 垂直落射照明卤素灯6V20W（内藏式连续调光电源) |
| 二、大平台检测显微镜-仪器系列: |
| 电脑型(KEM-300E): 1、大平台检测显微镜 2、适配镜 3、摄像头(CCD) 4、A/D转化(图像采集) |
| 数码相机型(KEM-300Z):1、大平台检测显微镜 2、数码适配镜 3、数码相机（推荐CANON A650） |
