便携式激光平面干涉仪主要用于高精密光学平面的平面度测量,光学平板的微小楔角测量,光学材料均匀性测量,光学薄板波前误差的测量。由于其独特的结构设计,拓展后可以满足角锥测量、光学系统测量、便携测量等多场景应用。是光学元件加工厂、光学仪器生产厂、大专院校、职工培训机构以及计量单位必备的光学检测仪器及教学设备。
SCY-15G型便携式激光平面干涉仪主要用于高精密光学平面的平面度测量,光学平板的微小楔角测量,光学材料均匀性测量,光学薄板波前误差的测量。由于其独特的结构设计,拓展后可以满足角锥测量、光学系统测量、便携测量等多场景应用。是光学元件加工厂、光学仪器生产厂、大专院校、职工培训机构以及计量单位必备的光学检测仪器及教学设备。
特点:
此型号仪器是以菲索干涉原理为基础,研制的检测专用干涉仪,具有良好的防震性能、稳定的条纹锁定度、视场清晰、生产场所可用性优于市场同类产品。