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激光平面干涉仪
便携式激光平面干涉仪

便携式激光平面干涉仪主要用于高精密光学平面的平面度测量,光学平板的微小楔角测量,光学材料均匀性测量,光学薄板波前误差的测量。由于其独特的结构设计,拓展后可以满足角锥测量、光学系统测量、便携测量等多场景应用。是光学元件加工厂、光学仪器生产厂、大专院校、职工培训机构以及计量单位必备的光学检测仪器及教学设备。

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产品详情

SCY-15G型便携式激光平面干涉仪主要用于高精密光学平面的平面度测量,光学平板的微小楔角测量,光学材料均匀性测量,光学薄板波前误差的测量。由于其独特的结构设计,拓展后可以满足角锥测量、光学系统测量、便携测量等多场景应用。是光学元件加工厂、光学仪器生产厂、大专院校、职工培训机构以及计量单位必备的光学检测仪器及教学设备。

        

特点:

此型号仪器是以菲索干涉原理为基础,研制的检测专用干涉仪,具有良好的防震性能、稳定的条纹锁定度、视场清晰、生产场所可用性优于市场同类产品。

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