XQZ光学测角比较仪

用途和特点：
　　可广泛适用于光学及机械制造业中，计量部门、车间以及研究院、所的实验室。实施光学棱镜、光学平板的自准测量、参照标准角规对金属零件及光学零件的比较测量；导轨的直线度及平板的平面度校准测量；两个平面的垂直度、轴与轴端面垂直度测量等。
　　该系列仪器操作简便、直观，测量稳定可靠，借助辅助设备用途广泛。

XQ60-ZⅠ

1′

V60′,H40′

10×/15×

±6″

0～1.4m

200×250×400

XQ15-ZⅡ

15″

V50′,H38′

20×

±3″

0～1.4m

200×250×400